埃科2025年获得了新的专利授权一种图像像素点异常去除方法,系统及介质，提到了Sensor中有些异常点亮度的变化是非线性的，所以需要用多段曝光方式来标定这些异常点。

Deepseek回答可能导致这些现象的原因如下：

🔍 一、异常点非线性响应的核心物理成因

1. 暗电流非均匀性（Dark Current Non-Uniformity）

• 机制：
  传感器像素单元中的硅衬底存在晶格缺陷或金属杂质（如铜、铁离子），形成电荷“陷阱”。这些陷阱在长曝光时持续捕获热生电子，导致暗电流随曝光时间指数级增长（非线性）。

• 影响：
  异常像素在低照度长曝光下亮度异常升高，且增长曲线偏离线性模型（如短曝光正常，长曝光突然出现亮斑）。

2. 光电二极管泄漏电流（Photo-Diode Leakage）

• 机制：
  像素光电二极管的耗尽区边缘存在电场畸变（由掺杂不均匀导致），引发隧道效应或热载流子注入。泄漏电流随电压/温度非线性变化，曝光时间延长时异常点亮度呈分段跳跃式上升。

• 典型场景：
  高温环境下（如工业相机长时间运行），异常点亮度变化率显著高于正常像素。

3. 复位晶体管阈值电压漂移（Reset Transistor Vth Shift）

• 机制：
  复位晶体管的栅氧层经长期电应力后产生电荷 trapping，导致阈值电压（Vth）漂移。这使得复位电平随使用时长累积性偏移，表现为：

  • 短曝光：复位电平偏差小，影响微弱；

  • 长曝光：复位误差被放大，异常点输出非线性衰减（如亮度低于邻域）。

• 专利关联：
  埃科的多段曝光标定可针对不同曝光时长动态修正Vth漂移导致的灰度偏差。

4. 微透镜与滤光片工艺缺陷

• 机制：

  • 微透镜偏移：异常像素的微透镜与光电二极管错位，短曝光时进光量不足，长曝光时光子散射效应增强，亮度非线性补偿；

  • 滤光片厚度不均：导致特定波长透光率异常，在宽光谱光源下呈现曝光相关的色偏。